MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測量選配件

MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測量選配件

零件代碼：PCS-002673

3D間隔成像（3D-SLIM）選項使用光學干涉術來測量樣品在測試過程中形成的亞微米添加劑膜。為了進行測量，將鋼試驗球裝在涂有鉻和二氧化硅層的玻璃盤上。接觸點由一個白色光源照亮，該光源沿著顯微鏡向下并穿過玻璃盤。

一部分光從光盤上的鉻層反射，另一部分穿過二氧化硅層和任何附加膜，并從鋼球反射回來。重組光路形成干涉圖像，該圖像聚焦在高分辨率RGB相機的成像器上。攝像機圖像由數字圖像采集卡捕獲，并可以由控制軟件進行分析，以確定觸點的膜厚圖。

為了進行測試，將鋼球放在鋼盤上，并在混合的滑動/滾動條件下運行固定的時間。在整個測試過程中，定期將球停下，逆向加載到玻璃盤上，并獲取整個接觸區域的膜厚圖。這使得可以對形成的任何反應膜進行膜厚測量。當與摩擦測量值結合使用時，這將提供在觸點中形成的膜的化學和物理作用的完整實時圖像。

MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測量選配件

零件代碼：PCS-002673

3D間隔成像（3D-SLIM）選項使用光學干涉術來測量樣品在測試過程中形成的亞微米添加劑膜。為了進行測量，將鋼試驗球裝在涂有鉻和二氧化硅層的玻璃盤上。接觸點由一個白色光源照亮，該光源沿著顯微鏡向下并穿過玻璃盤。

一部分光從光盤上的鉻層反射，另一部分穿過二氧化硅層和任何附加膜，并從鋼球反射回來。重組光路形成干涉圖像，該圖像聚焦在高分辨率RGB相機的成像器上。攝像機圖像由數字圖像采集卡捕獲，并可以由控制軟件進行分析，以確定觸點的膜厚圖。

為了進行測試，將鋼球放在鋼盤上，并在混合的滑動/滾動條件下運行固定的時間。在整個測試過程中，定期將球停下，逆向加載到玻璃盤上，并獲取整個接觸區域的膜厚圖。這使得可以對形成的任何反應膜進行膜厚測量。當與摩擦測量值結合使用時，這將提供在觸點中形成的膜的化學和物理作用的完整實時圖像。